Фотографическая структурометрия / К. В. Вендровский, А. И. Вейцман

Другие авторы:

Язык: Русский Выходные данные: Москва: Искусство, 1982Физическая характеристика: 270 с. илУДК:771.537.3 Другие классификации:

ГРНТИ : 60.33

Тип экземпляра: Книга Папки, в которых отображается этот экземпляр: 2025.12.25_ВЕРА

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша Миусская	77 / В 29	Доступно

В вып. дан. 1-й авт.: Карл Валерьянович Вендровский

Библиогр.: с. 258-267